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| 论文题目: | Unveiling the pinning behavior of charged domain walls in BiFeO3 thin films via vacancy defects | |||||||
| 作者: | Geng W R,Tian X H, Jiang Y X, Zhu Y L, Tang Y L, Wang Y J, Zou M J,Feng Y P,Wu B,Hu W T,Ma X L. | |||||||
| 论文出处（相关负责人）: | ||||||||
| 刊物名称: | Acta Materialia | |||||||
| 年: | 2020 | |||||||
| 卷: | 186 | |||||||
| 期: | ||||||||
| 页码: | 68-76 | |||||||
| 联系作者: | ||||||||
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