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专利库
专利名称:
金属薄膜/箔力学性能临界特征尺寸的测试系统和方法
专利类别:
申请号:
200710010241.4
申请日期:
20070131
专利号:
第一发明人:
张广平,郏义征,张摈
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
20100519
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
状态:
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