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专利库
专利名称:
力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台
专利类别:
发明
申请号:
申请日期:
20121221
专利号:
201210563644.2
第一发明人:
崔学顺、郭敬东、祝清省、刘志权、吴迪、张磊、曹丽华
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
20170623
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
状态:
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