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专利名称:
一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统
专利类别:
发明
申请号:
201810014228.4
申请日期:
20180108
专利号:
201810014228.4
第一发明人:
邰凯平，王忠良
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
20241115
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
状态:
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