沈阳材料科学国家研究中心技术支撑部新购置球差校正透射电镜（JEM-ARM200F）、场发射透射分析电镜(JEM-F200)和普通透射电镜（JEM-2100plus）。场地设施和安装调试已完成，验收指标均达到或优于技术要求。将于2025年1月6日起面向全所提供注册用户预约使用和委托测试服务。2025年1-2月为试运行阶段，免费使用，3月开始收费。

用户预约：具备初级操作资格可预约JEM-2100plus；中级资格可预约JEM-F200；高级资格可预约JEM-ARM200F。同级别跨机型透射电镜使用，需参加随机培训。

委托测试：请与技术负责人讨论方案，提交委托测试申请，安排机时提供测试服务，根据预约时所示收费标准按机时收费。

用户培训：参照国研中心技术支撑部透射电镜培训须知，参加透射技术组组织的每年春秋季两期培训。培训分为初/中/高三级，通过各级培训并考核合格后具备相应级别透射电镜的独立操作资格。

年度培训：2025年透射电镜春秋季培训开始时间分别为3月和9月。请参加培训人员认真阅读透射电镜培训须知，于2月底前以课题组为单位提交报名申请表。

相关链接：透射电镜培训须知，透射电镜培训申请表

联系人：崔静萍，23971830

附：

JEM-ARM200F参数和功能

加速电压：80-200KV；TEM点分辨率:0.23nm；STEM分辨率:0.078nm；相机:Gatan Rio16相机；能谱：JED 2300T能谱(100 nm双探头)；Merlin单电子探测器；旋进电子衍射装置。用于高分辨、原子像分析，原子级EDS分析，晶粒取向分布分析、微应力应变分析等。

JEM-F200基本参数和功能

加速电压：80-200KV；TEM点分辨率:0.23nm；STEM分辨率:0.16nm；相机:Gatan Rio16相机；能谱：JED 2300T能谱(100 nm-探头)。用于衍射衍衬分析，高分辨、原子像分析，EDS点、线、面分析等。

JEM-2100plus基本参数和功能

加速电压：80-200KV；TEM点分辨率：0.23nm；用于衍射衍衬分析，高分辨分析等。