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8.27】Sven Kayser
题目:飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用
 
2010-08-23 | 文章来源:国家实验室公共技术服务部        【 】【打印】【关闭

题 目:飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用

报告人:Sven Kayser (ION-TOF GmbH)

时 间:2010年8月27日(星期五)9:00 – 10:00

地 点: 李薰楼468房间

欢迎感兴趣的老师和同学参加!

讲座摘要

飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。它可以获得关于表面、薄膜以及样品界面的元素和分子的详细信息,并且给出完整的三维分析。这种技术的应用范围十分广泛,包括半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等。

Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications. It provides detailed elemental and molecular information about the surface, thin layers, interfaces of the sample, and gives a full three-dimensional analysis. The use is widespread, including semiconductors, polymers, paint, coatings, glass, paper, metals, ceramics, biomaterials, pharmaceuticals and organic tissue.

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