新闻动态
·综合新闻
·科研动态
·学术活动
·媒体聚焦
·通知公告
您现在的位置:首页 > 新闻动态 > 学术活动
8.27】Sven Kayser
题目:飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用
 
2010-08-23 | 文章来源:国家实验室公共技术服务部        【 】【打印】【关闭

题 目:飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用

报告人:Sven Kayser (ION-TOF GmbH)

时 间:2010年8月27日(星期五)9:00 – 10:00

地 点: 李薰楼468房间

欢迎感兴趣的老师和同学参加!

讲座摘要

飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。它可以获得关于表面、薄膜以及样品界面的元素和分子的详细信息,并且给出完整的三维分析。这种技术的应用范围十分广泛,包括半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等。

Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications. It provides detailed elemental and molecular information about the surface, thin layers, interfaces of the sample, and gives a full three-dimensional analysis. The use is widespread, including semiconductors, polymers, paint, coatings, glass, paper, metals, ceramics, biomaterials, pharmaceuticals and organic tissue.

文档附件

相关信息
联系我们 | 友情链接
地址: 沈阳市沈河区文化路72号 邮编: 110016
运维邮箱: office@imr.ac.cn
中国科学院金属研究所 版权所有 辽ICP备05005387号-1

官方微博

官方微信