分析测试中心为提升分析测试技术创新能力，加大大型仪器设备资源优质开放力度，更有效贯彻测试平台服务理念，将定期邀请国内外资深专家做系列分析测试技术报告，使测试技术人员和科研人员了解前沿分析测试技术，共同拓宽创新视野，助力抢占科技制高点任务的完成。

本期将邀请马普所(MPIE)“显微学与衍射”研究组负责人Dr. Stefan Zaefferer 等专家，就最新扫描电镜ECCI技术的发展与应用做技术报告，同时在现场进行演示与互动研讨。

欢迎广大研究人员和研究生参加！

1.日程和内容安排

2.报告人简介

Stefan Zaefferer教授，德国克劳斯塔尔-泽勒费尔德工业大学（Technical University Clausthal-Zellerfeld）学习物理冶金学和金属物理学，并获得与钛合金TEM研究相关的博士学位。自 2000 年以来，在德国杜塞尔多夫的马克斯-普朗克研究所（Max-Planck-institute）从事钢铁相关研究，并领导“显微镜和衍射”小组，担任亚琛工业大学材料表征讲师。曾在法国巴黎第十二大学担任3年研究员，日本京都大学担任2年研究员，同时定期在维也纳大学任教。

Zaefferer博士一直致力于晶格缺陷表征技术的开发和应用，包括TEM和 SEM相关技术，并率先发展了基于SEM的ECCI技术。除了发展衍射技术外，Stefan的研究兴趣还包括金属和其他材料中微观结构形成的机制，包括变形、再结晶和相变。Stefan Zaefferer作为作者或合著者发表了150篇期刊论文。

沙学超 博士，北京工业大学凝聚态物理专业博士毕业，长期从事显微结构表征相关工作，具有十多年的各式电子显微镜使用经验，参与发表SCI文章十余篇。目前任职于蔡司科研显微镜市场拓展部门，致力于为更多客户开发合适的应用解决方案，已经协助客户发表NM，NE，SA在内的多篇高水平文章。