报告人：杨祎罡，教授，清华大学

时间：2025年6月18日（周三） 下午2：00

地点：李薰楼249会议室

报告摘要：

本报告针对基于电子加速器的材料多特性分析技术进行讨论。利用电子加速器所提供的高能电子，可以产生X射线、中子和正电子。中子经过慢化以后成为超热、热和冷中子：超热中子具备对微量特殊元素（中高Z）进行灵敏共振无损检测分析的能力；热中子适合对叶片残余型芯进行灵敏检出，当进一步融合热中子/X射线的成像能力以实现双模成像后，可以完成对未知样品残芯的自动检出；利用冷中子的长波长特性，能够对材料的晶格特性（例如单晶的晶格取向）开展分析。通过测量正电子与材料中负电子发生湮没后出射511keV伽马光子的能量与时间分布特性，可以对材料内部的微观缺陷进行分析。以上这些材料特性技术均可在一个电子加速器的系统框架下实现，本报告将对它们的原理与实现方式进行初步的介绍。

报告人简介：

杨祎罡，工物系长聘教授，副系主任。长期以来开展基于电子加速器驱动的射线无损检测分析工作，提出并实现了基于单射线源多物理信息的“源设计、物理激发、探测与分析”的综合技术方案，在单一系统内同时实现X射线透射成像/CT，光致正电子微观结构缺陷分析，以及基于光中子成像的发动机叶片残芯检测与单晶晶格取向分析，所发明和实现的“单源-单探-双模成像”技术被国际中子成像协会ISNR作为亮点工作在2021newsletter长文介绍。