仪器名称 |
型号 |
生产商 |
超高分辨及分析型热场发射扫描电子显微镜 |
SU-70 |
Hitachi, Ltd. |
高分辨拉曼光谱仪 |
LabRAM HR Evolution |
法国HORIBA Jobin S.A.S |
扫描探针显微镜 |
INNOVA |
美国Bruker公司 |
傅立叶变换红外光谱仪 |
VERTEX 70V |
德国Bruker公司 |
探针式表面轮廓仪 |
DektakXT |
Bruker Scientific Instruments Hong Kong Co.Limited |
变温霍尔效应测试仪 |
HMS-5000 |
韩国Ecopia公司 |
双电测四探针测试仪 |
RTS-9型 |
广州硅研半导体技术有限公司 |
接触角测量仪 |
OCA 15PRO |
德国Dataphysics Instruments Gmbh |
显微镜 |
BX51 |
日本Olympus公司 |
分光光度计 |
U-3900 |
Hitachi, Ltd. |
荧光光谱仪 |
F-7000 |
Hitachi, Ltd. |
半导体特性分析系统 |
4200-SCS |
美国Keithley公司 |
分析探针台 |
EB-4 |
台湾奕叶国际有限公司 |
太阳光模拟器 |
94021A |
Newport Corporation |
电化学工作站 |
PGSTAT302N |
Metrohm Autolab B.V. |
赛贝克系数/电阻率测试仪 |
SBA458 |
NETZSCH-Gerätebau GmbH |
热像仪 |
IRS S65-B |
上海热像机电科技股份有限公司 | |