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性能表征
2016-07-26  |          【 】【打印】【关闭

仪器名称

型号

生产商

超高分辨及分析型热场发射扫描电子显微镜

SU-70

Hitachi, Ltd.

高分辨拉曼光谱仪

LabRAM HR Evolution

法国HORIBA Jobin S.A.S

扫描探针显微镜

INNOVA

美国Bruker公司

傅立叶变换红外光谱仪

VERTEX 70V

德国Bruker公司

探针式表面轮廓仪

DektakXT

Bruker Scientific Instruments Hong Kong Co.Limited

变温霍尔效应测试仪

HMS-5000   

韩国Ecopia公司

双电测四探针测试仪

RTS-9型

广州硅研半导体技术有限公司

接触角测量仪

OCA 15PRO

德国Dataphysics Instruments Gmbh

显微镜

BX51

日本Olympus公司

分光光度计

U-3900

Hitachi, Ltd.

荧光光谱仪

F-7000

Hitachi, Ltd.

半导体特性分析系统

4200-SCS

美国Keithley公司

分析探针台

EB-4

台湾奕叶国际有限公司

太阳光模拟器

94021A

Newport Corporation

电化学工作站

PGSTAT302N

Metrohm Autolab B.V.

赛贝克系数/电阻率测试仪

SBA458

NETZSCH-Gerätebau GmbH

热像仪

IRS S65-B

上海热像机电科技股份有限公司

功能薄膜与界面研究部

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