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序号 |
设备名称 |
型号 |
制造厂家 |
功能用途 |
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1 |
环境扫描电镜 |
Quattro S |
赛默飞 |
材料微观组织形貌观察、材料腐蚀形貌观察、导电性不良样品形貌观察；
材料微区成分分析；
材料晶体取向分析。 |
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2 |
环境扫描电镜 |
XL30 FEG |
FEI |
可对样品进行表面形貌观察，同时进行元素定性分析；
环扫功能配有冷台与热台两种模式；
配有三点弯曲台与拉伸台，可对样品进行力学测试的同时进行表面形貌观察等。 |
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3 |
扫描电镜 |
INSPECT F |
赛默飞 |
材料微观形貌观察；
微区成分测定； |
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场发射透射电子显微镜 |
JEM2100F |
日本JEOL公司 |
材料的形貌观察，对应区域的结构表征；
纳米束，汇聚束衍射；
成分的点，线，面分析。 |
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5 |
X射线衍射仪 |
PW3040/x0 X' Pert PRO |
帕纳科 |
物相定性分析。
物相定量计算、计算晶粒尺寸、位错密度等。 |
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6 |
科研级倒置金相显微镜 |
Axio vert 5 |
德国蔡司(zeiss） |
放大倍率范围25x-1000x
具有明场、暗场成像功能；
采集高分辨率的电子图像； |
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7 |
材料显微镜(自动) |
Axio Observer.Z1m |
德国蔡司(zeiss) |
主要用于金属材料显微组织特征观察、显微组织中析出相的形貌及其含量分析等工作。 |
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8 |
体式显微镜 |
Stemi508 |
德国蔡司（Zeiss） |
主要用于金属材料断口、表面腐蚀状况的低倍观察。 |
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9 |
手动磨抛机 |
Labopol |
丹麦（Stuers）公司 |
手动磨抛机是一款电气控制的研磨和抛光机器，旨在专门地手动对样品进行研磨和抛光操作。 |
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10 |
触控屏镶嵌机 |
XQ-2B |
沈阳科晶 |
用于在抛光前镶嵌样品。 |
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微区电化学测试系统 |
VersaSCAN |
阿美特克（AMETEK） |
SVET扫描振动电级测量技术模块：测试材料在溶液内腐蚀过程种的表面电势分布；
SKP扫描开尔文探针测试技术模块：测试材料在空气中表面的功函数；
LEIS微区电化学阻抗测试技术模块：测试微区电化学阻抗谱。 |
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扫描电镜 |
Gemini 360 |
ZEISS |
材料微观组织形貌观察、材料腐蚀形貌观察；材料微区成分分析；材料晶体取向分析。 |
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傅立叶变换红外光谱仪 |
INVENIO-R |
布鲁克（Bruker） |
化合物结构和含量分析 |
| 14 |
电化学综合测试系统 |
PARSTAT 4000A |
阿美特克（AMETEK） |
测试腐蚀电位、电化学极化曲线、电化学阻抗谱等 |
| 15 |
电化学工作站 |
Autolab PGSTAT302N |
瑞士万通 |
测试腐蚀电位、电化学极化曲线、电化学阻抗谱等 |
