设备名称：波长色散X射线荧光光谱仪
型号：PW4400/40
制造厂家：PANalytical
功能用途：
适用于金属材料、冶金、矿物等领域中块状、粉末、薄膜、屑状等样品中元素含量的分析
主要技术指标：
X射线：端窗Rh靶超尖锐X射线管，最大功率4KW，最大电压60KV，最大电流125mA；
X光束过滤器：五位可编程入射光束过滤器，以改进X射线的激发；
测角仪：微处理器控制，光学定位；5位晶体转换器；细、中、粗、超粗4种初级准直器；
探测器：2个探测器，流气正比计数器（大角度），闪烁计数器（小角度）；
数据处理系统：优异的分析控制软件SuperQ 3.0运行于Windows 2000或Windows NT平台上，具有多种功能和曲线校证方式，可以连续扫描、步进范围扫描的定量和定性分析软件。
