分析测试_中国科学院金属研究所
了解金属所
当前栏目:技术方向>结构分析>仪器设备 回到首页
接触式表面形貌仪
2022-03-04  |          【 】【打印】【关闭

  设备名称:接触式表面形貌仪

  设备型号:PGI Novus

  制造厂家:英国泰勒公司

  主要用途:主要用于各类零件的轮廓尺寸与精密粗糙度的测量。

  主要技术指标
  1、测针 X 方向行程:X轴最大行程显示120mm;
  2、允许样品最大高度:Z 轴最大高度显示值为387mm;
  3、粗糙度示值误差:-0.2%;
  4、系统噪声:Rq:0.98nm;
  5、驱动箱直线度精度(μm):Pt:0.065μm;
  6、半径测量偏差(μm):测量半径为79.9904mm玻璃球三次,测的半径分别为79.9904mm,79.9901mm,79.9899mm,计算得出半径偏差为-0.5μm;
  7、样品表面轮廓、粗糙度测量:对弧面样品表面轮廓进行半径,距离角度等相关轮廓测量分析,可以依据标准对取样长度、滤波器等进行选择,完成样品表面粗糙度分析;选择测量直径较小的1mm合金丝圆周方向进行粗糙度测量Ra:0.15μm,可以测量任意弧面样品(棒材、管材等圆周方向)粗糙度,;测量0.090μm标准样快,测量值0.092μm,测量示值0.90μm标准样块,测量值0.915μm,示值2.97μm标准样块,测量值2.964μm;测量抛光样品表面粗糙度为0.003μm,测量80#砂纸表面粗糙度为61.23μm,满足粗糙度测量范围Ra:0.008-50.0μm。

中国科学院金属研究所

分析测试中心

版权所有 中国科学院金属研究所 辽ICP备05005387号