设备名称：热场发射扫描电子显微镜

　　型号：Apreo

　　制造厂家：FEI

　　功能用途：材料微观形貌观察、微区成分分析及晶体取向表征等

　　主要技术指标：

　　二次电子分辨率：0.8nm/30kv