设备名称:钨灯丝扫描电镜
型号:S-3400N
制造厂家:日本Hitachi公司
功能用途: 材料微观组织形貌观察; 断口形貌观察; 材料及各种相的微区成分测定(EDX); 晶粒取向的测定(EBSD)。
主要技术指标: 高真空分辨率3nm,低真空分辨率4.5nm; 配置:二次电子探头;背散色探头;能谱仪和背散射衍射仪。
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