设备名称

型号规格

生产厂商

性能指标

扫描电镜

Nova NanoSEM 430

美国FEI

分辨率：高真空模式1.0nm @ 15kV、1.8nm @ 1kV、0.8nm @ 30kV(STEM探测器)；低真空模式1.5nm @ 10kV(Helix探测器)、1.8nm @ 3kV(Helix探测器)；加速电压 200V - 30kV，连续可调；电子束流范围 0.3pA - 100nA，连续可调；样品台移动范围Nova NanoSEM 430：X=Y=100mm

透射电镜

Jeol 2010

日本Jeol

点分辨率：0.19nm；最小束斑：1nm；晶格分辨率：0.14nm；放大倍数：×50-×1500，000；最大加速电压：200KV

原子力扫描探针显微镜

CSPM-3400

北京本原纳米仪器有限公司

扫描隧道显微镜(STM)分辨率：横向0.13nm，垂直0.01nm（以石墨定标）；原子力显微镜(AFM)分辨率：横向0.26nm，垂直0.1nm（以云母定标）；样品尺寸：≤Φ45mm ；样品厚度：≤25mm；扫描范围：标准配置1μm×1μm；20μm×20μm；图像采样点：512×512；最大扫描速率：55000 P/S；进样方式：步进马达控制自动逼近，行程≤30mm，精度≤83nm ；扫描控制：双16-bit D/A（相当于26位精度）；数据采样：双16-bit A/D （相当于23位精度）

光学显微镜

LV100D

日本NIKON CORPORATION

最高放大倍数1000倍

红外光谱仪

TENSOR 27

德国

分辨率波数4cm^-1，检测范围400-4000cm^-1，温度400度

紫外－可见分光光度计

V-550

日本JASCO公司

光谱范围：190nm-900nm；分辨率：0.1nm；波长重复度：±0.1nm

显微激光拉曼光谱仪

LABRAM-HR800

法国HORIBA  JOBIN YVON SAS

800mm焦长，背照式深毫型CCD，532 632 785nm激光，红外谱段检测，共焦显微镜。激光光斑直径小于1 微米，纵向分辨率好于2 微米

紫外近红外分光光度计

MU566/ 12CK5601/ 14

美国瓦里安公司

测试波长范围：175-3300nm，波长准确度：±0.08nm，紫外可见波段±0.4nm，近红外段
分辨率：0.048nm, 紫外可见波段0.2nm，近红外波段杂散光：0.00007%T，谱带宽度：0.01-5nm，可调
光度范围：8Abs

质谱仪

QMS403C

德国耐驰公司

温度范围：0-300ºC；荷质比：〈300

BET比表面积分析仪

ASAP2010M

美国Micrometritics

比表面积范围：0.01-3000m²/g；孔测量范围：0.35-300nm；压力测量范围：0-950mmHg

LB膜分析仪

KSV Minitrough II

芬兰凯博郎公司

镀膜井半径：133 mm 深度 128 mm；膜天平测量范围：最大到250 mN/m；膜天平分辨率：4 μN/m；

激光粒度分析仪

Mastersizer 2000

英国Malvern Instruments Limited

粒度范围：0.1～300nm

纳米粒度和ZETA电位分析仪

NANO ZS90

英国Malvern Instruments Limited

粒度范围：0.01～300nm

电化学工作站

AMETEK 2273

Advanced Measurement Technology, Inc

电压+ -100V，2nA-2A，扫描速率0.1mv-10V/s，频响范围:10mHz-1MHz

电化学测试仪

BT-2000

美国Arbin

电流: +10A～+1mA；电压: -1V～9V

电化学分析系统

Solartron 1260/1287

英国Solartron公司

电流范围：200nA to 2A；电压范围：±14.5V；频率范围：10μHz to 32MHz

半导体测试仪

Keithley 4200

美国KEITHLEY INSTRUMENTS INC

电流范围 0.1fA -0.1A电流0.1fA 电压范围0-200V 精度 1nV

高阻计（静电计）

Keithley-6517B

美国KEITHLEY INSTRUMENTS INC

电阻测量可达1016Ω；电流测量范围1fA-20mA；最小电流量程输入压降<20µV；200TΩ输入阻抗；<3fA偏置电流;高达425rdgs/s；噪声0.75fA p-p；内置±1kV电源

综合热分析仪

STA449C Jupiter

德国耐驰公司

低温炉：-120ºC到750ºC；高温炉：25ºC-1650ºC；最大称重和范围：5g；灵敏度：0.1µg；气氛：氧化、还原、惰性和真空；加热速率 (K/min)：0.1-50

Fluke热像仪

Ti32

Fluke热像仪

温度-20~+600℃，热灵敏度（NETD）≤0.05，像素320*240

转矩流变仪

Polylab QC

赛默飞世尔科技/ 美国

最大转速200 rpm，最大温度400°C，最大扭矩160Nm，速率比3:2，加热/冷却3段。

动态机械分析仪

Q800

美国沃特斯公司

最大力18N，最小力0.0001N，频率范围0.01～200Hz，温度范围-150～600℃

精密万能材料试验机

HIKS

英国 Hounsfield test equipment Ltd.

应力精度：±0.5%；应变精度：±0.01mm或者±0.05%空载；极限：5N/50N

真空冷冻干燥机

LGJ-50F

北京松源

冷阱盘管温度：-50℃，极限真空度：13Pa以下

高速离心喷雾干燥机

GZ-10型

无锡市阳光干燥设备厂

进风温度小于330℃，蒸发量10Kg/h