报告题目：材料结构与缺陷分析中的透射电子显微术

主讲人：朱银莲 研究员

时　间：7月5日（周四） 14:00-16:00

地　点：李薰楼468室 

内容简介：

以功能氧化物薄膜为例，讲述透射电子显微术在材料结构与缺陷分析中的具体应用。对透射电子显微术在材料科学研究领域应用的最新进展加以简单介绍。