题　目：ESCALAB250表面分析系统功能介绍及在测试固体材料电子结构方面的应用

报告人：康强　副研究员（分析测试部）

时　间：4月27日（周六） 15：00—16：30

地　点：李薰楼 468 会议室

报告简介：

1.介绍X射线光电子能谱（XPS), 紫外光电子能谱（UPS),俄歇电子能谱（AES),背反射电子能量损失谱（REELS),测试原理和主要分析功能；

2.介绍运用XPS测试的价电子谱和俄歇参数，研究过渡族元素形成二元合金的d电子填充和电荷转移。

欢迎所内青年职工及研究生踊跃参加！