Multimode IIID型扫描探针显微镜（德国BRUKER公司）

　　Multimode IIID scanning probe microscope

　　技术参数：集成AFM和STM的功能，噪声水平≤0.3？，可持续稳定得到原子级分辨率图像，并配有横向力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、扫描开尔文探针和双恒电位仪。

　　应用领域：腐蚀机理研究