原位透射电子显微镜分析技术（In-Situ Environmental TEM）可以实现材料在周围环境和多物理外场耦合条件下，亚纳米或原子尺度上结构变化的实时观测。该技术同时具备时间和空间尺度的高分辨特性，从而从深层次理解材料的本质属性及其宏观特性变化的根源，是当今材料结构表征学中最新颖和最具发展空间的研究领域。