制造商：美国FEI

　　安装时间：2003年11月

　　技术指标：

　　　　配有EDAX能谱、Gatan GIF系统
　　　　加速电压： 200KV 300KV （可选）
　　　　能量分辨率：0.8eV
　　　　TEM点分辨率：2 Å
　　　　TEM信息分辨率：1.4 Å
　　　　STEM分辨率：1.7 Å

　　功能：

　　　　用于二维和三维材料微观尺度下的晶体结构表征和化学成分分析等：
　　　　可实现TEM成像、STEM成像、能量过滤TEM像（EFTEM）、衍射和电子能量损失谱（EELS）分析；
　　　　在STEM模式下可实现HAADF、ADF、BF成像；
　　　　三维重构；
　　　　有针对磁性材料研究的不受场约束的 Lorentz 模式成像，分辨率可达2 nm；
　　　　配备相应原位样品杆进行微观尺度的In-Situ TEM分析。

　　放置地点：

　　　　李薰楼148室