FEI公司作为显微镜领域的领先企业,会定期举办国际学术交流会,届时,来自全世界的显微学领域的科学家、研究者及工程师云集在此,就目前最为先进的电子显微技术进行研讨。2012年5月,马秀良研究员受邀参加在美国Key West举办的FEI高端用户会议。
材料界面及缺陷的电子显微学研究团队
版权所有 中国科学院金属研究所 辽ICP备05005387号