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透射电子显微镜(JEM-F200)试运行及投入使用通知
 
2024-10-29 | 文章来源:公共技术中心、SYNL技术支撑部        【 】【打印】【关闭

沈阳材料科学国家研究中心技术支撑部新购置的场发射透射分析电镜(JEM-F200)已经安装调试完毕,于2024年11月3日至12月31日开放试运行。在此期间将检验设备性能和运行稳定性 ,并及时反馈处理存在的问题。试运行结束后,将面向全所开放,所内注册用户经培训后可预约使用。

一、试运行期间用户招募条件

(1)已获透射电镜中级操作资格,具备两年以上透射电镜使用经验;

(2)能够独立操作日本电子透射电镜;

(3)过去三个月一直预约使用并亲自操作。

二、培训使用规则

(1)待发布培训通知后,先报名参加电镜初级培训(30机时/普通透射电镜/培训机时费6000元),考核合格获初级操作资格。

(2)获初级资格后,报名参加透射电镜中级培训(10机时/场发射透射电镜/培训机时费5000元),考核合格获中级操作资格。

(3)已具备中级资格者,随机培训(JEM-F200)5机时,即可授权独立操作许可。培训机时纳入使用机时,按标准计费。

三、联系人:崔静萍13332431833

附:JEM-F200基本参数和功能

加速电压:80-200KV;TEM点分辨率:0.23nm;STEM分辨率:0.16nm;相机:Gatan Rio16相机;能谱:JED 2300T能谱(100 nm2探头)。用于衍射、衍衬分析,高分辨、原子像分析,EDS点、线、面分析等。

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