设备名称：场发射电子探针

　　型号：JXA-Ihp200f

　　制造厂家：JEOL

　　功能及用途：

　　材料微区化学成分分析及微观形貌观察。

　　技术指标：

元素分析范围：5Be—92U；

4道波谱仪，X射线取出角：40°；

二次电子像分辨率：3 nm（@30kV）;

电子图像放大倍数：x40至x300，000，连续可调；