薄膜材料与界面课题组-中国科学院金属研究所
联系我们  金属研究所  中国科学院
仪器设备
材料制备
结构解析
成分分析
性能测试
原位表征
模拟计算
当前栏目:成分分析 回到首页
成分分析
2026-07-09  |          【 】【打印】【关闭



傅立叶变换红外光谱仪
Bruker Vertex 70V
物质鉴定及分子构型解析



荧光光谱仪
Hitachi F-7000
高灵敏度荧光痕量分析


紫外-可见分光光度计
Hitachi U-3000
定性分析、结构分析、反应动力学研究


接触角测量仪
Dataphysics Oca 15Pro
表面润湿性表征



有仪器设备方面的需要,请与我们取得联系:史丹 024-83970109 shidan@imr.ac.cn


金属基复合材料&特种焊接与加工研究团队-中国科学院金属研究所

金刚石基材料与表界面催化课题组

版权所有 中国科学院金属研究所 辽ICP备05005387号
地址: 沈阳市沈河区文化路72号 邮编: 110016 电话: 024-83970803