薄膜材料与界面课题组-中国科学院金属研究所
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性能测试
2026-07-10  |          【 】【打印】【关闭



半导体特性分析系统
Keithley 4200-SCS
半导体与光电器件的I-V,C-V及Z theta 等特性曲线


变温霍尔效应测试仪
Ecopia HMS-5000
半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率等参数测量


双电测四探针测试仪自主研发
Four probes tech RTS-9
测量电阻率


电化学工作站
Metrohm Autolab PGSTAT302N
研究材料电化学性能、电极反应机理、化学反应动力学等


有仪器设备方面的需要,请与我们取得联系:史丹 024-83970109 shidan@imr.ac.cn


金属基复合材料&特种焊接与加工研究团队-中国科学院金属研究所

金刚石基材料与表界面催化课题组

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