薄膜材料与界面课题组-中国科学院金属研究所

仪器设备

当前栏目：结构解析

结构解析

2026-07-09 | 【大中小】【打印】【关闭】

场发射透射电子显微镜
FEI Tecnai G2 F20
配备EELS，可测量样品原子级微观结构信息

超高分辨及分析型热场发射扫描电子显微镜
Hitachi SU-70
配备XMAX50能谱仪、MP-32S阴极荧光光谱仪

高分辨拉曼光谱仪
Horiba Labram HR Evolution
配备325 nm, 532 nm, 785 nm激光光源

扫描探针显微镜
Bruker Innova
样品表面纳米级起伏、粗糙度等立体形貌测量

光学显微镜
Olympus BX51
材料表面细微结构提取

探针式表面轮廓仪
Bruker DexktakXT
材料表面粗糙度、轮廓、平面度、台阶高度等测量

有仪器设备方面的需要，请与我们取得联系：史丹 024-83970109 shidan@imr.ac.cn

金属基复合材料&特种焊接与加工研究团队-中国科学院金属研究所

金刚石基材料与表界面催化课题组